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DSK-C 变频抗干扰介质损耗测试仪

DSK-C 变频抗干扰介质损耗测试仪

是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具…
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产品详情 PRODUCT DETAILS

概说

DSK-C 抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印,使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强等优点。体积小、重量轻,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。

二、技术指标

1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)

2、相对湿度:30~70

3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz

4、外形尺寸:长×宽×高=4900mm×300mm×390mm

5、重量:约18kg

6、输出功率:1KVA

7、显示分辨率:4

8、测量范围:

介质损耗(tgδ):0-50

电容容量(Cx)和加载电压:

2.5KV档:≤300nF300000pF

3KV档:≤200nF200000pF

5KV档:≤ 76nF 76000pF

7.5KV档:≤ 34nF 34000pF

10 KV档:≤ 20nF 20000pF



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